関連技術に関する最新の技術や市場動向に関する情報提供を行い、新たな発見、知見、技術のさらなる発展や創造を支援します。
■開催内容
| 開 催 日 | 令和８年１月28日(水) 14:00 ～ 15:30（13:45 入室開始） |
|---|---|
| 題 目 | ＡＩ検査で画像異常を少数の良品データ学習から検出する部分空間活用技術 |
| 講 師 | 富山大学 学術研究部工学系 特命教授 張 潮 氏 |
| 開催方法 | Zoomウェビナーを使ったライブ配信 |
| 募集人数 | 先着100名 |
| 参 加 費 | 無料 |
| 申込締切 | 令和８年１月26日(月) |
| 対象者 | 県内企業の経営者、管理者、技術者、 SIer等技術者等 |
| 申込方法 | 次のURL、あるいはQRコードから申込みください。 |
| 留意事項 | 「デジタル技術基盤分野研究会」への新規入会ご希望の方は、≪デジタル技術基盤分野研究会のご案内・入会について≫もしくは、≪セミナー概要≫裏面の入会申込書にご記入いただきe-mailまたはFAXにてお申込みください。 Mail. y.mizuno # tonio.or.jp ※ # は @ に置き換えて、スペースは詰めて下さい。 Fax.076-433-4207 |
≪セミナー概要≫
≪デジタル技術基盤分野研究会のご案内・入会について≫
■講演内容
題 目：「ＡＩ検査で画像異常を少数の良品データ学習から検出する部分空間活用技術」
内 容：
本講演では、少数の正常データのみを用いて高精度な異常検知を実現する新しい画像解析手法について紹介します。
従来のＡＩ検査では大量の良品・不良品画像が必要でしたが、本手法は正常データの構造的特徴を自己表現モデルにより学習し、未知の異常を自動的に検出します。多階層特徴量の解析を通じて、異常領域を可視化しつつ高い説明性を確保しており、製造現場における外観検査のみならず、医療・インフラ分野への応用も期待されます。
■講 師
富山大学
学術研究部工学系 特命教授
張 潮 氏
